出獄再犯可能性 大腦掃描預測

【新唐人2013年03月27日訊】(中央社台北27日電)神經科學家聲稱已找到1種方法,透過觀察大腦掃描影像,來預測出獄的罪犯日後是否可能再次犯案。

英國「每日郵報」(Daily Mail)報導,美國影像專家表示,若罪犯大腦中1塊與決定和行動相關的區域活躍程度低,日後再遭逮捕的可能性較高。

新墨西哥州阿爾伯克基(Albuquerque)精神研究網絡(Mind Research Network)神經科學家凱爾(Kent Kiehl)領導的研究團隊,讓96名男性囚犯在獲釋前不久,執行幾項須要快速下決策和抑制衝動反應的電腦任務,同時研究人員掃描受試者的大腦活動。

研究人員利用功能性核磁共振造影(fMRI)進行掃描,主要著重於觀察前扣帶腦皮質(ACC)的活動力;這塊區域與運動控制和執行功能有關。

研究人員在接下來4年繼續追蹤這些受試者,發現在執行快速決策任務中,ACC活躍程度低的前囚犯,出獄後再遭逮捕的可能性較高。

Nature.com網站報導,研究人員得出這項結果之前,已先將年齡、用藥、酗酒及精神病徵等其他風險因子列入考慮。

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